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產品名稱:

電阻率測試系統(tǒng)

更新時間:2024-09-11

產品型號:電阻率-

產品報價:

產品特點:電阻率測試系統(tǒng)是集霍爾效應、磁阻、I-V特性等測試于一體的全自動化測試系統(tǒng)。系統(tǒng)全面地考慮了儀表配置、電路接線(包括室溫和低溫的接線)等用戶經常忽略的問題,選取了美國Keithley的電測量儀表,磁場根據(jù)用戶需要采用電磁鐵或無液氦超導磁體

電阻率-電阻率測試系統(tǒng)的詳細資料:

電阻率測試系統(tǒng)是集霍爾效應、磁阻、I-V特性等測試于一體的全自動化測試系統(tǒng)。系統(tǒng)全面地考慮了儀表配置、電路接線(包括室溫和低溫的接線)等用戶經常忽略的問題,選取了美國Keithley的電測量儀表,磁場根據(jù)用戶需要采用電磁鐵或無液氦超導磁體, 配備靈巧的測量樣品桿,加上全自動化的測試軟件,能讓用戶快速方便地進行樣品測試,并獲得準確可靠的數(shù)據(jù)。

電阻率測試系統(tǒng)主要特點:


1)標準系統(tǒng)使用插入式樣品夾具,樣品安裝方便;

2)基本配置一次zui多可以加裝四個樣品, 并同時可以對兩個樣品進行測試;

3)標準系統(tǒng)隨機配送一個探針樣品卡;

4)標準系統(tǒng)可以進行不同磁場下的霍爾效應、I-V特性的測量;

5)電阻測量范圍寬:0.1mΩ—50GΩ(高阻系統(tǒng)),測量的不確定度為2%;

6)測試過程和計算過程由軟件自動執(zhí)行,節(jié)省了大量的時間;

7)軟件可以顯示測量結果和測量曲線;

8)系統(tǒng)磁場采用閉環(huán)控制,可以提供高穩(wěn)定性的磁場, 同時解決了磁鐵剩磁問題,實現(xiàn)真正的零磁場;

9)選擇變溫選件,可以進行不同溫度下的霍爾效應測量和I-V特性測量。

基本配置組成:

一、測量儀表部分

標準系統(tǒng): 美國Keithley公司的2400電流表、2700萬用表、7709矩陣卡以及接口適配器和GPIB電纜等。

高阻系統(tǒng):美國Keithley公司的6220電流表、 2182A 納伏表、6485皮安計、 6514靜電計、7001開關盒、7152矩陣卡以及相應的連接電纜、接口適配器和GPIB電纜等。

二、磁場組成部分

電磁鐵系統(tǒng):

根據(jù)用戶需要的磁場大小來選購電磁鐵(可見首頁電磁鐵類),然后再選配對應電磁鐵的功率電源。如磁場3T以上需配超導磁體及超導電源。

三、配件部分

測試總成:包括樣品桿及支架總成、 樣品盒模塊、樣品卡和連接測試電纜等;

儀表安裝柜、高性能電腦和液晶顯示器;

電阻率測量系統(tǒng)軟件;

安裝和操作使用手冊等。


系統(tǒng)可測試材料:

半導體材料:

Si、Ge、GaAs、GaN、AlGaAs、CdTe、HgCdTe、CdTe、ZnO、SiCGeSi、InPMCT等,以及弱磁半導體和稀磁半導體的薄膜及塊材;

鐵氧體材料;

低阻抗材料:金屬、透明氧化物、弱磁性半導體材料、TMR材料等。

系統(tǒng)基本功能:

可以進行霍爾效應、I-V特性(電阻率)及磁電阻(MR)的測量;

可得出參數(shù):霍爾效應——方塊電阻、電阻率、霍爾系數(shù)、導電類型、霍爾遷移率、載流子濃度;

I-V特性的MR的特性曲線包括:

不同磁場下的I-V特性曲線

不同溫度下的I-V特性曲線

不同磁場下的變溫I-V特性曲線

不同溫度下的變磁場I-V特性曲線

電阻隨溫度、磁場變化的特性曲線

P-B曲線

主要技術指標:

樣品尺寸:

1)小尺寸雙面樣品卡,面積為12×12mm2(隨機配送10個);

2)大尺寸單面樣品卡,面積為50× 50mm2(隨機配送10個);

3)探針樣品卡,可測樣品尺寸范圍:1×1mm2, , ~30×30mm2(隨機配送1個)。

溫度環(huán)境(標準系統(tǒng)不帶變溫選件,只能進行室溫下的測量):

無液氦超導磁體系統(tǒng)(系統(tǒng)自帶低溫選件, 不用單獨選擇):1.6K~325K

液氮恒溫器選件:

標準液氮恒溫器: 80K~325K

高溫型液氮恒溫器:80K~500K

循環(huán)制冷機選件(不消耗液氦/液氮等制冷劑):

標準4K制冷機系統(tǒng):  4K~325K

高溫4K制冷機系統(tǒng):  4K~500K

高溫4K制冷機系統(tǒng):  4K~700K

標準10K制冷機系統(tǒng): 10K~325K

高溫10K制冷機系統(tǒng): 10K~500K

高溫10K制冷機系統(tǒng): 10K~700K

微型制冷機系統(tǒng):    45K~325K

主要電性指標:

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